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SID4-DWIR 波前傳感器Phasics
 
   
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SID4-DWIR 波前傳感器Phasics

法國PHASICS公司自主研發(fa)的(de)(de)(de)波(bo)前(qian)(qian)(qian)(qian)傳感(gan)器是基于四波(bo)橫(heng)向剪切干涉技術(shu)。SID4系列波(bo)前(qian)(qian)(qian)(qian)分析(xi)儀相較傳統的(de)(de)(de)夏克(ke)-哈特曼(man)波(bo)前(qian)(qian)(qian)(qian)探測(ce)器具有高分辨(bian)率、消色(se)差、高靈敏(min)度、高動態檢測(ce)范圍、操作(zuo)簡(jian)便等(deng)獨特的(de)(de)(de)優勢。為波(bo)前(qian)(qian)(qian)(qian)像差、波(bo)前(qian)(qian)(qian)(qian)畸變的(de)(de)(de)檢測(ce)以及(ji)激(ji)光光束及(ji)波(bo)前(qian)(qian)(qian)(qian)的(de)(de)(de)測(ce)量、分析(xi),眼科(ke)虹(hong)膜定位波(bo)前(qian)(qian)(qian)(qian)像差引導(dao)等(deng)提供了全新的(de)(de)(de)解決(jue)方案!

  • 商品(pin)重量(liang):1600.000 克(g)
  • 貨(huo)  號:SID4-DWIR
  • 品  牌:Phasics
  • 計量單位:
購(gou)買數(shu)量:
  (庫存10)

    法國PHASICS公司自主研發的波前傳感器是基于四波橫向剪切干涉技術。SID4系列波前分析儀相較傳統的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率(lv)、消色差、高靈敏(min)度、高動態檢(jian)測范圍、操作(zuo)簡便等獨特的優勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析,眼科虹膜定位波前像差引導等提供了全新的解決方案!PHASICS波前探測器依據其四波橫向剪切(qie)干涉(she)專利技術,對哈特(te)曼(man)掩模技術進行(xing)了大的升級、改進。PHASICS波前傳感器400X300的(de)超高(gao)分辨率和(he)500um的超大動態范圍完美結合在了一起。可以滿足不同的客戶的應用需求,可對激光光束進行光強、位(wei)相、PSF(點擴(kuo)散函(han)數)、MTF(調(diao)制傳遞函數)、OTF(光(guang)學(xue)傳遞函數)、波前像差(cha)M2等(deng)進(jin)行實時、簡便(bian)、快(kuai)速的(de)測量。

型(xing)號

SID4-DWIR

孔徑

13.44 × 10.08 mm2

空間分辨率

68 μm

采樣點/測量點

160 × 120

波長

3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm

動態范圍

N/A

精度(du)

75 nm RMS

靈敏度

< 25 nm RMS

采樣(yang)頻率

> 50 fps

處理頻率

20 Hz

尺寸

85 × 116 × 179 mm

重量

1.6 kg

1. 技(ji)術特點

◆高分辨率

◆消(xiao)色差

◆高動態范圍(wei)

◆高靈敏(min)度

◆操作(zuo)簡便

◆設計簡潔緊湊

◆高性價比

2.技(ji)術優勢(shi)

◆高分辨(bian)率(lv)的相(xiang)位圖

能夠提供高分辨率的相位圖。標準分辨率為160120個采樣點,高分辨率的探測器能精確測量鏡片像差,并能做到較高的測量重復性。

◆具(ju)有直接(jie)測量高發散光束的(de)能力

我們的波前探測技術具有直接測量光路系統相差的能力,并且無需額外的過渡鏡(參見下圖)。校準后的光束通過鏡片后直接測試。探測器可以測量波前傳輸時球面波的偏差。盡管有極大的光束偏差(如數值孔徑高達0.75),仍然可以做到光路系統與探測器間不使用過渡鏡就能測試。

◆消色差(cha)

SID4探測器能夠匹配CCD整個探測范圍,用于不同波長光而無需額外校準,也能用于多色光源。

◆對準(zhun)方便

SID4傳感器無需精確的,很繁冗的校準步驟。分析算法為校準波前探測器提供便利。當布好探測器和光源后,光路系統測試部分可以直接放在光源和SID4探測器之間。并且,也可以很容易的調整光路系統以便于測試,還省去了使用過渡鏡以及用它帶來的光路位置調整和相差消除的麻煩。

◆符合人體(ti)工程(cheng)學原理

設計緊湊的SID4探測器配置了電腦和專用KALEO軟件,其友好的人機界面使光學測量過程更符合人體工程學原理。

◆光學測量專用的KALEO軟件

SID4探測器為光學測量配置了專用的Kaleo軟件。該軟件允許在一次測量中提供完整的測量項目的光學量值特征:相差,PSFMTF,有效焦距等。定制的特征報告也可編輯。

成功案例

單位

型號

中(zhong)國科(ke)學院長春光學精密機械(xie)研究所

SID4-DWIR

中國工程物理研究院

SID4-DWIR

中國科(ke)學院上(shang)海技術物理(li)研(yan)究所

SID4-DWIR

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